随着商业航天长周期验证、半导体激光器测试、储能研发及先进制造等应用持续发展，测试供电系统正面临更高要求：不仅需要在复杂负载与长时间运行条件下保持稳定输出，还需具备高密度部署、远程程控及多设备协同能力。尤其在自动化ATE测试、真空罐老化及无人化产线中，电源启动过冲、线缆压降、负载突变及软件异常等问题，都可能影响测试数据可靠性，甚至对敏感负载造成不可逆损坏。

面向系统级自动化测试需求，普源精电（RIGOL）正式发布DP6000系列1U系统级可编程直流电源。首发DP6073与DP6074两款型号，分别提供60V/12.5A、150V/5A输出能力，额定功率均为750W。产品采用标准1U高密度机架式设计，集低纹波噪声、快速瞬态响应、硬件级保护、标准SCPI程控及串并联扩展能力于一体，专为自动化ATE测试与长时老化系统打造。

纯净稳定输出，应对敏感器件与长时老化测试

对于半导体激光器、精密器件及长期老化负载而言，电源纹波、负载变化和环境温漂都可能影响测试结果。DP6000系列可编程直流电源在20Hz～20MHz带宽范围内，将电压纹波噪声控制在＜8mVrms/80mVpp，电流纹波噪声低至＜18mArms，为敏感器件测试及长周期验证提供更纯净的直流供电。

纹波噪声实测波形

面对负载电流阶跃变化，DP6000系列具备＜1ms瞬态响应能力，可快速恢复至设定输出值，降低动态负载对供电稳定性的影响。同时，产品通过低负载调节率、高精度编程与回读能力，以及低温漂硬件设计，保障长时间连续运行中的输出一致性。

长期稳定性趋势曲线

在CV模式下负载调节率低至0.01%+10mV，CC模式下低至0.01%+2mA；电压编程与回读精度均可达0.05%+50mV，为商业航天等长周期、高可信度验证测试提供可靠支撑。

CC/CV优先权与多重保护，构筑安全供电防线

精密负载在上电瞬间易受到电压或电流过冲冲击。DP6000系列可编程直流电源 全系标配CC/CV优先权模式，可根据实际应用需求，在启动时优先以恒流或恒压模式进入稳定状态，再切换至设定输出，从源头减少上电过冲风险，适用于容性负载、电池、低压敏感器件及半导体激光器等测试场景。

CC/CV 优先权模式

在输出控制方面，DP6000系列可编程直流电源满载上升时间≤80ms、满载下降时间≤50ms，使输出在启动时平稳建立、关断时有序回落，减少电压突变对负载带来的冲击。

150V满载拉升/下降

针对自动化系统长期无人值守运行中的潜在风险，DP6000系列可编程直流电源内置硬件级看门狗机制，软件出现异常时可自动重启复位；同时标配OVP过压保护、OCP过流保护、OPP过功率保护及OTP过温保护等硬件级主动保护功能，构建多重安全防线。产品还提供5V远端Sense压降补偿，可降低长距离线缆压降与温差变化的影响；内置20 PLC积分滤波，帮助稳定外控模拟闭环。

标准1U ATE架构，灵活融入自动化测试系统

DP6000系列可编程直流电源遵循行业标准1U ATE物理结构与通用SCPI指令集，命令级兼容行业主流系统电源。对于已有ATE自动化程序，用户无需进行大规模改写，即可快速完成设备接入与测试程序迁移，减少上位机适配和重新验证工作。

在通信与控制方面，产品后面板标配LAN（LXI Core）、USB Host/Device、Digital I/O、Analog I/O及Remote Sense接口，并支持选配GPIB接口，满足实验室研发、存量机柜升级及自动化产线等多样化需求。DP6000系列可编程直流电源还可直接接入RIGOL UVerse系统，与DG70000-R系列任意波形发生器、DHO5000系列高分辨率数字示波器及M300数据采集系统协同工作，实现测试流程、运行状态、变量与日志的统一管理。

后面板视图

采用1U全高机架式设计，DP6000系列可编程直流电源可紧凑部署于标准机柜，适合多通道、高功率密度供电系统搭建。单台设备之外，产品支持同型号多台串联，总电压不高于600V；并支持最多5台并机均流，用户可根据实际测试需求灵活扩展电压与电流输出能力。

机柜多台堆叠

覆盖商业航天、激光器件与先进制造应用

在商业航天真空罐长周期老化测试中，DP6000系列可编程直流电源的1U高密度结构适合大规模集群化部署。依托UVerse平台及RIGOL M300系列数据采集系统，用户可实时获取温度等环境反馈，并匹配预设测试曲线，动态调控数百台电源的输出功率，为真空环境下的器件老化、热控验证及长周期满载运行提供稳定的供电基础。

真空罐长周期老化测试（示意图）

在半导体激光器高精度供电测试中，低纹波输出、CC恒流优先权模式及快速瞬态响应能力，可有效降低启动浪涌、供电噪声和负载变化对器件的影响。结合UVerse系统，用户可联动DG70000-R系列任意波形发生器、DP6000系列可编程直流电源与DHO5000系列高分辨率数字示波器，可视化编排“外部触发—延时输出—波形采集—结果判定”等测试流程，提高测试的一致性、复现性与验证效率。

半导体激光测试（示意图）

从实验室研发验证，到自动化ATE测试、先进制造产线及商业航天长周期可靠性试验，普源精电（RIGOL）DP6000系列可编程直流电源以高密度架构、长期稳定输出及系统级协同控制能力，为新一代自动化测试系统提供可靠、高效的直流供电保障。